探針臺探針與樣品的接觸方式根據(jù)應用場景及設備類型的不同，主要可分為以下幾種形式：

機械定位接觸式通過X/Y/Z軸旋鈕或移動手柄手動調(diào)節(jié)探針座位置，逐步將探針*端移動至待測點上方，再通過Z軸下壓完成接觸。此方式需結(jié)合顯微鏡觀察，確保探針與樣品表面精準對齊。在顯微鏡低倍物鏡下定位樣品后，切換高倍物鏡微調(diào)待測點位置，再通過探針座三軸微調(diào)旋鈕實現(xiàn)接觸。利用機械手控制探針臂的移動，將探針*端**定位至半導體器件的Pad或晶圓測試點，通過壓板下降建立電氣連接。

真空吸附固定式樣品通過真空卡盤吸附固定，確保測試過程中無位移；探針通過獨立模塊化設計靈活調(diào)整位置，適配不同形狀/尺寸的樣品。大電流測試中，樣品需清潔后置于真空卡盤，開啟真空閥確保吸附穩(wěn)定，再通過探針座微調(diào)接觸壓力。

自動化控制接觸式射頻探針臺通過計算機控制探針運動，結(jié)合同軸電纜連接測試設備，實現(xiàn)晶圓級射頻參數(shù)的自動化測量。批量測試時，完成一個器件后升起壓板，移動載物臺至下一器件重復定位流程。

分步微調(diào)驗證接觸探針*端接近樣品后，通過X軸左右滑動觀察表面劃痕或測試設備反饋信號，驗證是否建立有效接觸。需緩慢操作，避免探針壓力過大損壞樣品或針尖鈍化。

特殊模式擴展部分探針臺支持切換真空/氣氛環(huán)境測試，通過模塊化設計快速拆卸探針底座，擴展樣品腔空間或切換功能。探針與樣品的接觸核心在于精準定位與穩(wěn)定控制，需結(jié)合設備類型、樣品特性及測試需求選擇適配方法。操作中需遵循分步微調(diào)、壓力驗證等規(guī)范，以保障測試精度與設備壽命。